长链烷基硅烷接枝含还原氧化石墨烯的聚二甲基硅氧烷的机电性能

ty10086 提交于 周三, 08/25/2021 - 16:54
文章英文标题
Electromechanical performance of polydimethylsiloxane containing reduced graphene oxide grafted by long-chain alkyl silane
正文
本研究考察了在还原氧化石墨烯( rGO )上接枝长链有机硅烷( OS )对聚二甲基硅氧烷( PDMS )介电性能和机电性能的影响,据此合成了两种不同接枝密度的OS-rGO颗粒,并通过傅里叶变换红外光谱、拉曼光谱、热重分析等测试手段对其进行表征。采用溶液混合法将所制备的颗粒引入PDMS中,制备了不同颗粒浓度的复合材料。介电性能测试结果表明,含OS-rGO颗粒的复合材料比含rGO或纯PDMS的复合材料具有更高的\"介电效率\"和介电击穿强度。OS接枝密度越高,介电性能和机电性能越好。通过考察颗粒的导电性,讨论了硅烷的间隔长度在导电rGO颗粒周围形成空填充绝缘层,在颗粒-聚合物界面处陷阱自由电荷,将电渗滤阈值推迟到更高浓度,通过抑制复合材料中电荷的泄漏电流来降低介电损耗。含有3wt %高接枝密度的OS-rGO的PDMS的活化应变几乎是纯PDMS的两倍。
文章内容(英文)
The present study investigates the effects of grafting a long-chain organosilane (OS) onto the reduced graphene oxide (rGO) on dielectric and electromechanical performance of polydimethylsiloxane (PDMS). Accordingly, two types of OS-rGO particles were synthesized with different grafting densities and characterized by various tests such as Fourier transform infrared spectroscopy, Raman spectroscopy, and thermo-gravimetric analyses. As-prepared particles were introduced into PDMS using the solution mixing method to manufacture composites with different concentrations of particles. Dielectric results revealed that the composites containing OS-rGO particles offer better dielectric performance in terms of higher “dielectric efficiency” and dielectric breakdown strength than composites containing rGO or neat PDMS. The higher the grafting density of OS, the better the dielectric and electromechanical performance is obtained. By examining the electrical conductivity of particles, it was discussed that the spacer length of silane creates a space-filling insulating layer around the conductive rGO particles, traps free electric charges at the particle-polymer interface, postpones the electrical percolation threshold to higher concentrations, and reduces the dielectric loss through suppressing the leakage current of charges in the composite. Actuation strain of PDMS containing 3 wt% of OS-rGO with high grafting density was almost twice that for the neat PDMS.
来源出处
Journal|[J]Journal of Materials Science: Materials in ElectronicsVolume 31, Issue 21. 2020. PP 18844-18857
DOI
https://doi.org/10.1007/s10854-020-04423-2

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